表麵形貌測量儀是一種非接觸式光學3D輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。除提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量，測量較薄的塗層被證實為難度更高。

　　采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界麵粗糙度、針孔缺陷以及薄塗層表麵的剝離等特性。無論測量的是何種元件，無論對分析速度的要求有多高，非接觸式表麵形貌測量儀都能為您提供精密的3D表麵測量結果。

　　極大地擴展了分析能力，同時又不至於讓分析程序變得更複雜。可測量各種各樣的元件和表麵，不需要進行複雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。通過標準化的方法、程序和報告，可輕鬆地整合到質量管理係統中。

　　表麵形貌測量儀對於很多需要進行高精度3D輪廓分析的應用非常有用，可測量多種類型的表麵。可測量的材料類型包括：玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。

　　三維形貌量測係統采用光學全場非接觸式測量技術，通過測頭直接測量獲取工件的三維形貌信息，對三維輪廓信息進行直接測量得到工件的尺寸信息。

　　表麵形貌測量儀對手機外殼檢測的原理：

　　采用光學全場非接觸式測量技術，直接獲取手機外殼的三維形貌。通過三維形貌的點雲數據進行逆向工程生成CAD模型，與手機外殼的CAD原型比對，獲得加工誤差，為產品提供質量考核依據。

　　表麵形貌測量儀在手機外殼中的應用：

　　1.手機外殼全表麵快速測量；

　　2.手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件輪廓及厚度檢測。

　　這一類檢測是采用光譜共焦技術，非接觸式測量手機3D玻璃及陶瓷外殼等構件的整板翹曲度，任意截麵翹曲度，整板厚度以及任意截麵厚度等。